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期刊内容
10.3-2010年5/6月刊

10    BGA组装可靠性—PWB质量是关键
       Tom Clifford

16    COB嵌入SMT组装工艺的挑战和解决方案
       Mukul Luthra

28    高可靠性应用中无铅波峰焊接工艺指南
       J.Scott Nelson

 

 
10.2-March/April 2010

8     在无铅组装中降低铜溶解
       D.Di.Maio, C.P.Hunt, B.Willis


13   减少球窝缺陷的锡铅和无铅焊膏的研究与开发
       Jasbir Bath, Roberto Garcia, Noriyoshi Uchida

28   跟踪、追溯和控制:实现低成本高产能
       Francois Monette, Matt Van Bogart

34   隐藏缺陷的安全检测
       Jens Kokott

 37   技术聚焦:焊膏喷印正在兴起

 
10.1-Jan/Feb issue 2010

10    来自管理经验和学习曲线的协同清洗工艺创新
       Mike Bixenman, Dirk Eills, John Neiderman

18    哪种工具是最佳的SMT返修工具——传导还是对流?
       Paul Wood

32    购买AOI解决方案之前您需要了解什么
       Paul Groome

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9.6 issue-Nov/Dec 09

10    小型化电子组装的精密模板印刷工艺
       Chris Anglin

20    采用非电子工业的既成材料降氏晶圆级封装成本
       Glies Humpston

31    RoHS战争故事
       Bev Christian, Michael Fry

37    PoP与汽相技术
       Dan Coada

 
9.5-Sep/Oct issue

10    非传统封装和组装应用中的液体喷印
       Alec J.Babiarz

16    能理测量:焊料球高应变率焊接强度测试的主要度量标准
       Stephen Clark

 18    iNEMI项目评价无BFR PCB材料
       Stephen Tisdale, Gary B Long, Roger Krabbenhoft et al

29    EMS“精益西格玛缩短周期时间、降低成本、提高质量
       Maths E.Andersson

33    用于电子封装的热传导液体材料
       Samjay Misra

 
9.4-July/August 2009

10   无铅时代的热风焊料整平

Keith Sweatman

 

 18   POP:EMS组装、返修及可靠性 

 Heather Mclormick, Irene Sterian, Jimmy Chow 

 

 32  可靠性测试的惊人结果 

 

 34  大功率X-射线检测:保证高分辩率图像 

 David Bernard

 
9.3-May/June 2009

10    通孔元件产品中焊料空洞的解决方案 

 Condia yu, Eddie w, Jack To

 

25    应变测试:热周期测试的增量影响

Mark T McMeen

 
9.2-March/April 2009

10    可替代无铅焊料评价的测试数据要求 

 Helen Holder, Gregory Henshall, Aileen Maloney 

 

 25    工艺能力指数:评估设备能力的一种更好方法 

 Rita Mohanty, Daryl Santos

 

 28 无铅和含铅PCB可在一起清洗吗? 

 Dipl.-Ing, Stefan Strixner

 
9.1-Jan/Feb 2009

10    01005组装工艺——从基板设计到再流焊工艺 

Norbert Heilmann

 

14    了解再流焊隐藏的反应和温度曲线的重要性 

 S.Manian Ramkumar,  Anand Kannabiran, Aarchi Baskaran, Viswam Publigandla, Bjorn Dahle

 
8.6-Nov/Dec 2008

10    表面贴装封装中焊料球贴装的进展 

 Tom Falcom

 

18    PCB生产与测试:有关无铅工艺的建议(一) 

 Thomas Berger

 

28    了解再流焊隐藏的反应和温度曲线的重要性(二)

S. Marian Ramkumar, Anand Kannabiran, Aarthi Baskaran, etal

 32  并行印刷与检测工艺实现印刷后100%检测 
Wolfram Hubsch

 
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